您現在的位置：中國農業儀器網 > 技術文章 > 葉綠素測定儀測定與模擬蔭濕環境穗位葉面積

葉綠素測定儀測定與模擬蔭濕環境穗位葉面積

來源： http://www.douyinxiaodian6.com 　類別：技術文章　更新時間：2014-11-12　閱讀次

      不同基因型玉米在人工模擬蔭濕環境下，穗位葉面積及其葉綠素測定儀測定含量的變化，并以自然環境條件為對照，比較不同基因型玉米在蔭濕環境與自然環境條件下穗位葉面積及其葉綠素含量的差異，為耐蔭濕玉米新品種或育種材料的鑒定篩選提供參考。
　　
      采用盆栽種植，3次重復，重復內參試材料隨機排列，重復間走道寬1m。盆缽平行放置于平整好的試驗地土表，缽間距80cm，缽長2m，寬40cm，高40cm。用SPAD502葉綠素測定儀測定穗位葉葉片中部位置葉綠素相對含量(spad值)；用分光光度法測定葉綠素a含量、葉綠素b含量，并計算葉綠素a/b值。
　　
      蔭濕條件下，以玉米穗位葉面積及其葉綠素含量計算18個雜交品種和30個自交系的綜合耐蔭濕系數。蔭濕環境葉綠素b含量比自然環境增加65.41%，差異達極顯著；葉綠素a/b值為1.89±1.19，變異系數為63.40%，蔭濕環境葉綠素a/b值比自然環境降低32.25%，差異達極顯著。
　　
      在人工模擬蔭濕環境下，比較了不同基因型玉米在蔭濕環境與自然環境條件下穗位葉面積及其葉綠素含量的差異。以上葉綠素測定儀的測定結果表明，蔭濕環境對玉米穗位葉面積、葉綠素及其含量具有明顯影響，蔭濕環境下玉米雜交種和自交系的穗位葉面積及其葉綠素a/b值均呈下降趨勢，葉綠素相對含量和葉綠素b含量呈明顯上升趨勢，這些性狀的變化基因型間存在顯著或極顯著差異。